全光譜分(fēn)光光度計

使用技術的20/30 PV不僅可以讓用戶測試微米級樣品的吸收、反射、拉曼、熒光激發或其他光源類型下(xià)的光譜，還同時提供了數字成像功能。美國CRAIC 20/30 顯微分(fēn)光光度計系統，結合了顯微學和光譜學的優勢，用于微小(xiǎo)樣品或樣品的微小(xiǎo)區域的光譜分(fēn)析；微區光譜測試的範圍從深紫外(wài)到近紅外(wài)，同時也提供全波段的成像。具備先進的光譜及圖像分(fēn)析軟件、自動化的參數設置、簡單易用、能長時間穩定工(gōng)作等優良特性。與上一(yī)代20/20PV 相比，具有更好的重複性和穩定性，使得微區光譜範圍從2100nm延伸至2500nm，還有配備了自動光圈切換功能，使得自動化特點更爲突出。現目前市場上，沒有一(yī)家公司能夠在顯微光譜分(fēn)析條件下(xià)，能把光譜範圍做到200-2500nm,從紫外(wài)至近紅外(wài)全光譜波段。并且也是無光纖連接的系統，重複性和穩定性大(dà)大(dà)提高，光譜線性也是非常漂亮。

全光譜分(fēn)光光度計産品簡介

CRAIC 20/30 PV™全光譜顯微分(fēn)光光度計

20/30 PV™ UV-Visible-NIR Microspectrophotometer

20/30 PV™可爲用戶定制紫外(wài)-可見-近紅外(wài)分(fēn)光光譜儀

創新性的20/30 PV™顯微分(fēn)光光度計是CRAIC科技公司的儀器。它爲您的需求打造，該定做儀器結合了光學、光譜學和軟件領域裏的技術進步，能夠爲您帶來*的速度和性能體(tǐ)驗。CRAIC儀器*是因爲它的簡單易用，而這種易用性在這裏甚至得到了改善，使得該設備成爲先進的紫外(wài)-可見-近紅外(wài)光顯微分(fēn)光光度計。

20/30 PV™顯微分(fēn)光光度計結合了的科技，允許用戶測量直徑小(xiǎo)于1微米樣品區域的紫外(wài)-可見-近紅外(wài)光範圍内的透射比、吸光度、反射率、釋放(fàng)強度和熒光光譜，即使是薄膜和色彩空間都能被檢測到。在獲得microspectra™（顯微光譜）的同時，可以觀察到樣品深紫色、可見光和近紅外(wài)光處高分(fēn)辨率的數字圖像。易用的特點也附加到了20/30 PV™強大(dà)的系統中(zhōng)，包括了軟件自動化儀器人體(tǐ)工(gōng)程學的所有進步。

20/30 PV™ 顯微分(fēn)光光度計簡單易用，測量方法爲非破壞性并且得到的光譜數據顯微分(fēn)光光度計，可以無縫從深紫光到近紅外(wài)光區域獲得顯微樣品的光譜和圖像。它可以在吸光度、反射率和熒光性中(zhōng)獲得 microspectra™（顯微光譜）和圖像。與顯微分(fēn)光光度計一(yī)起提供的還有用眼觀察樣品的 DirecVu™和高分(fēn)辨率紫外(wài)-可見-近紅外(wài)光區域數字成像系統。

主要特點

紫外(wài)-可見-近紅外(wài)光顯微分(fēn)光光譜儀

一(yī)個*整合的顯微分(fēn)光計裝置，描述從深紫外(wài)光到可見光到近紅外(wài)光範圍的光譜。同時直接獲得樣品空隙的圖像，而且樣品的測量更快、更精确。20/30 PV™ 擁有Lightblades™科技的特點，甚至能夠讓您測量次微米級樣品的透射比、反射率、偏振和熒光光譜。

CRAIC科技也是NIST可追溯的顯微分(fēn)光計标準的來源。

拉曼顯微分(fēn)光光譜儀

靈活的拉曼顯微分(fēn)光光譜儀

當20/30 PV™裝上CRAIC阿波羅™拉曼分(fēn)光儀模塊後，它能像拉曼、共振拉曼以及其他測量顯微樣品的儀器一(yī)樣工(gōng)作。這些模塊包括激光、拉曼分(fēn)光計和界面光學，能讓您收集到樣品高質量的拉曼光譜。

熒光性

高靈敏度發射顯微分(fēn)光計和成像系統

20/30 PV™可以被裝配成測量顯微樣品熒光和冷光光譜以及圖像的儀器。20/30 PV™擁有Lightblades科技的特點，能夠激發從深紫外(wài)到近紅外(wài)的光，能測出相同範圍的放(fàng)射，它對于材料科學、生(shēng)物(wù)學、地質學等學科的顯微熒光測定法來說是一(yī)款強大(dà)的工(gōng)具。

偏振

紫外(wài)-可見-近紅外(wài)光顯微分(fēn)光計和成像系統

20/30 PV™甚至可以被裝配成獲得偏振光譜和圖像的儀器。20/30 PV™顯微分(fēn)光計擁有偏振Lightblades科技的特點和從紫外(wài)光到近紅外(wài)光的光譜範圍，它的性能是其他儀器無法達到的。用這個精細的系統您可以容易且迅速地獲得雙折射和其他有偏振特點的樣品的光譜和圖像。

光譜表面成像

光譜表面成像整合了爲自動化光譜分(fēn)析設計的軟硬件和帶有顯微空間解析度的樣品3D成像技術。樣品吸光度、透射比、反射率、熒光性、放(fàng)射性和拉曼光譜這些數據的3D地圖也許能夠生(shēng)成。

從紫外(wài)光到近紅外(wài)光的出衆圖像質量

20/30 PV™ 包含帶有研究級光學器件的紫外(wài)-可見-近紅外(wài)光顯微鏡，非常*。20/30 PV™ 擁有精細的成像軟件，帶有彩色、紫外(wài)線和近紅外(wài)光區域的高分(fēn)辨數碼成像特點。這允許您簡單迅速地通過透射比、反射率、偏振和熒光顯微鏡來實時獲得樣品的圖像。

應用

l 半導體(tǐ)薄膜厚度（測量）

l  MEMS 設備

l  表面等離(lí)子體(tǐ)共振

l  光激能帶隙水晶

l  雜(zá)質加工(gōng)檢測

l  蛋白(bái)質晶體(tǐ)

l  法庭科學

l  藥物(wù)化學

l  可疑文件

l  OLED

l  平闆彩色面罩

l  組合化學