原子力拉曼聯用系統—XploRA Nano

XploRA Nano是一(yī)款高度集成原子力拉曼系統。它不僅提供各種優秀性能，而且使用便捷，能快速得到可靠的結果。

産品特點：
全自動操作，數分(fēn)鍾内即可開(kāi)始測試
适合拉曼紅光或近紅外(wài)激發（AFM反饋激光爲1300nm）
側向及頂部耦聯，均可使用高NA值100倍物(wù)鏡以優化信号
同區域成像
針尖增強拉曼光譜TERS
TERS快速成像
同一(yī)軟件操作

結合納米成像和化學分(fēn)析

單層、雙層和三層石墨烯的共點AFM和拉曼成像

AFM和其他SPM技術可提供分(fēn)子級别分(fēn)辨率下(xià)的形貌、力學、熱能、電(diàn)磁場和近場光學特性。
共焦拉曼光譜和成像可提供納米材料在亞微米空間分(fēn)辨率下(xià)的詳細化學信息。
同步測量的*平台，有助于您獲得可靠且位置高度重合的圖像。
結合高性能和易用性，HORIBA将會根據您所選擇的SPM制造商(shāng)提供一(yī)個可靠、全功能的解決方案
針尖增強拉曼光譜(TERS)的光學、機械和軟件都是經過優化設計的，同時有HORIBA在拉曼光譜幾十年的經驗做技術支持，您可以自信地使用這一(yī)技術。

一(yī)個工(gōng)具多種可能：AFM-拉曼有助于您提高效率

快速找到納米對象
由于納米材料具有特殊的化學屬性，拉曼峰信号較強，因此在光學顯微鏡下(xià)不可見的納米材料可以通過超快速拉曼成像進行搜索和定位。在找到樣品後，我(wǒ)(wǒ)們可以對感興趣的位置進行形貌、機械、電(diàn)學和熱能分(fēn)析。

交叉驗證您的數據
拉曼光譜可以證實材料的某些特性，例如前面研究的石墨烯，AFM形貌的對比度較差而難以确定層厚，拉曼則可以從另外(wài)一(yī)個角度去(qù)獲得相同的信息，此外(wài)拉曼還提供更多有關結構和缺陷的信息，此信息隻有具備原子分(fēn)辨率的AFM才能提供。

獲得感興趣納米結構的化學信息
在表征納米結構時，有時僅獲得物(wù)理性質是不夠的。高分(fēn)辨的拉曼共焦成像可提供詳細的化學成分(fēn)信息，這是其他SPM傳感器無法實現的。

探索TERS（針尖增強拉曼散射）領域
TERS（或納米拉曼）可以綜合兩種技術之優勢：可獲得空間分(fēn)辨率低至2nm（一(yī)般低至10nm）的化學特異性拉曼光譜成像。該技術可用于表征從納米管到DNA等各種樣品。