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簡要描述:晶體(tǐ)尺寸:10毫米
電(diàn)學性能:半導體(tǐ)
晶體(tǐ)結構:斜方晶系
晶胞參數:a = 0.4025nm,B = 1.117nm,C = 1.135nm,α=β=γ= 9
晶體(tǐ)類型:合成
晶體(tǐ)純度:>99.995%
表征方法:XRD,拉曼,EDX,霍爾測量
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晶體(tǐ)尺寸:10毫米
電(diàn)學性能:半導體(tǐ)
晶體(tǐ)結構:斜方晶系
晶胞參數:a = 0.4025nm,B = 1.117nm,C = 1.135nm,α=β=γ= 9
晶體(tǐ)類型:合成
晶體(tǐ)純度:>99.995%
表征方法:XRD,拉曼,EDX,霍爾測量
晶體(tǐ)尺寸:10毫米
電(diàn)學性能:半導體(tǐ)
晶體(tǐ)結構:斜方晶系
晶胞參數:a = 0.4025nm,B = 1.117nm,C = 1.135nm,α=β=γ= 9
晶體(tǐ)類型:合成
晶體(tǐ)純度:>99.995%
表征方法:XRD,拉曼,EDX,霍爾測量
XRD of a single crystal Bi2S3. X-ray diffraction was performed at room temperature using a D8 Venture Bruker.
EDX of a single crystal Bi2S3.
Raman of a single crystal Bi2S3. Measurement with a 785nm Raman at room temperature.
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