電(diàn)化學顯微鏡是一(yī)款精密的掃描微電(diàn)極體(tǐ)系，具有*空間分(fēn)辨率，在溶液中(zhōng)可檢測電(diàn)流或施加電(diàn)流于微電(diàn)極與樣品之間。是一(yī)種無觸摸，無破壞性的儀器，能夠用于測量導電(diàn)，塗膜，或半導體(tǐ)材料，與樣品探針之間的功函差。這種技能是用一(yī)個振蕩電(diàn)容探針來作業的，通過調理一(yī)個外(wài)加的前級電(diàn)壓測量樣品外(wài)表和掃描探針的參比針尖之間的功函差。功函和外(wài)表狀況相關。共同性質使在潮濕環境乃至是氣态環境中(zhōng)也能夠測量，将不或許研讨變爲實際。用于檢測，剖析，或改動樣品在溶液中(zhōng)的外(wài)表和界面化學性質。掃描振蕩電(diàn)極技能是一(yī)種非破壞性掃描，使用振蕩探針，測量電(diàn)化學化學樣品外(wài)表産生(shēng)的電(diàn)特性。确保用戶能夠實時測定和定量部分(fēn)電(diàn)化學反響以及腐蝕。
材料腐蝕的電(diàn)化學測驗辦法局限于整個樣品的微觀測驗，測驗成果隻反映樣品的不同部分(fēn)方位的全體(tǐ)計算成果，不能反映出部分(fēn)的腐蝕及資(zī)料與環境的作用機理，爲進行部分(fēn)外(wài)表科學研讨,微區掃描體(tǐ)系供給了一(yī)個新的途徑，并日益得到包含部分(fēn)腐蝕範疇的廣泛應用。
電(diàn)化學顯微鏡是一(yī)種基于超微電(diàn)極的掃描微探針電(diàn)化學技能，它将一(yī)支能夠進行三維方向移動的超微盤電(diàn)極作爲作業探針沉浸在電(diàn)解質溶液中(zhōng)，在離(lí)基底約幾微米的方位進行掃描，通過探針上的電(diàn)流改變來反映基底的形貌和性質。
SECM是基于70時代末超微電(diàn)極和80時代初掃描隧道顯微鏡，發展起來的具有一(yī)定空間分(fēn)辨率（介于一(yī)般光學顯微鏡和STM）的電(diàn)化學原位檢測辦法，其核心是電(diàn)化學和原位檢測。SECM的檢測信号是電(diàn)流或者電(diàn)位，因此具有化學反響物(wù)質靈敏性，既而不光能夠研讨探頭或者基底電(diàn)極上的異相反響電(diàn)荷轉移動力學和溶液中(zhōng)的均相反響動力學，乃至界面雙電(diàn)層信息，還能夠原位分(fēn)辨外(wài)表微區電(diàn)化學不均勻性，能夠補償掃描電(diàn)鏡等不能直接供給電(diàn)化學活性信息的缺乏，電(diàn)化學顯微鏡對于腐蝕研讨具有重要的含義。
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