電(diàn)化學顯微鏡是顯微鏡的一(yī)種,基于電(diàn)化學原理工(gōng)作,可測量微區内物(wù)質氧化或還原所給出的電(diàn)化學電(diàn)流。利用驅動非常小(xiǎo)的電(diàn)極(探針)在靠近樣品處進行掃描,樣品可以是導體(tǐ)、絕緣體(tǐ)或半導體(tǐ),從而獲得對應的微區電(diàn)化學和相關信息,目前可達到的zui高分(fēn)辨率約爲幾十納米。可用于研究導體(tǐ)和絕緣體(tǐ)基底表面的幾何形貌;固/液、液/液界面的氧化還原活性;分(fēn)辨不均勻電(diàn)極表面的電(diàn)化學活性;研究微區電(diàn)化學動力學、研究生(shēng)物(wù)過程及對材料進行微加工(gōng)。
掃描電(diàn)化學工(gōng)作站(電(diàn)化學顯微鏡)是市場上競争性的單通道電(diàn)化學工(gōng)作站。掃描電(diàn)化學工(gōng)作站可通過計算機的USB接口或以太網來連接控制。可接入局域網内,經授權的計算機可以進行遠程訪問。同時,它具有兩個模拟輸入和一(yī)個模拟輸出,用來控制外(wài)部儀器,如旋轉圓盤電(diàn)極或石英晶體(tǐ)微天平以及記錄所生(shēng)成的數據。
電(diàn)化學顯微鏡保護的條件:
1.所用材料和介質的多樣性,須根據每一(yī)保護系統的具體(tǐ)條件以及每一(yī)操作階段的特定狀況确定自然腐蝕電(diàn)位與保護範圍。
2.質與要保護的構築物(wù)的表面積之比明顯低于外(wài)部微區掃描電(diàn)化學保護。因此,電(diàn)流分(fēn)布特别是在無防腐層表面上的電(diàn)流分(fēn)布受到了限制。帶有插入構件結構複雜(zá)的設備的内部電(diàn)化學保護尤其困難,隻能靠增加電(diàn)極數量以及恰當安排多支保護電(diàn)極才可能達到均勻的電(diàn)流分(fēn)布。
3.部電(diàn)化學保護中(zhōng)必須考慮到要保護的構築物(wù)上與輔助電(diàn)極上的電(diàn)化學反應與相應的一(yī)連串的反應,必須根據電(diàn)解質和其純度純度要求選擇微區掃描電(diàn)化學保護的類型和輔助陽極的材料;必須查明正在發生(shēng)什麽電(diàn)解質反應以及這些反應發展到什麽程度就會造成有害影響。
5.保護電(diàn)流的作用或者由于犧牲陽極的自腐蝕,能夠析出氫氣,其可能形成可以爆炸的氣體(tǐ)混合物(wù)。假如陽極需要插進氣相空間,此時不得使用具有催化活性的貴金屬陽極或者有貴金屬鍍層的陽極。從安全考慮,應當避免使用具有催化活性的貴金屬陽極。
6.入構件與要保護的構築物(wù)實現電(diàn)絕緣并且不包括在微區掃描電(diàn)化學保護的範圍内時,應當确定此保護電(diàn)流是否會導緻破壞性幹擾和采取什麽保護措施。
7.确定當操作不穩定時,以及當溫度與電(diàn)解質濃度發生(shēng)變化時是否需要采取特别措施。